특허전문가
물리학 석사
약력:
• Ludwig-Maximilians-Universität (LMU) München 입학 및 Universität Innsbruck (LFU) 물리학과 졸업
• 디지털 과학 (Digital Science) 부전공
• Infineon Technologies AG에서, 반도체에서의 정량적 도펀트 농도를 Scanning Microwave Impedance Microscopy로 측정하는 방법을 연구하여 석사 졸업
• 2024년부터 Pruefer & Partner에서 근무
언어:
독일어, 영어
전문 분야
• 물리
• 디지털 과학
• 반도체 관련 연구